PPGEE

Programa de Pós-graduação
em Engenharia Elétrica

UFRGS

Defesa Pública da Dissertação de Mestrado do Engenheiro Eletricista THALES EXENBERGER BECKER:


Data: 26 de Fevereiro de 2018  - segunda-feira
Horário: 14h00min
Local: Salão de Eventos do Instituto Eletrotécnico (Av. Osvaldo Aranha - 1º andar)

Banca Examinadora:
Prof. Dr. Altamiro Amadeu Susin - PPGEE - UFRGS
Profa. Dra.  Fernanda Gusmão de Lima Kastensmidt - PPGC - UFRGS
Prof. Dr. Vinícius Valduga de Almeida Camargo - Centro de Desenvolvimento Tecnológico - UFPEL
Prof. Dr. Gilson Inácio Wirth - PPGEE-UFRGS (Orientador)
Suplente:
Prof. Dr. Jacob Scharcanski - PPGEE - UFRGS

Título da Dissertação: CARACTERIZAÇÃO ELÉTRICA TEMPORAL DE TRANSISTORES DE FILMES FINOS DE NANOPARTÍCULAS DE ÓXIDO DE ZINCO

Resumo: "Neste trabalho, são discutidas as características de transistores de filmes finos (TFTs) nos quais nanopartículas de óxido de zinco (ZnO) são empregadas como material ativo na camada semicondutora. O crescimento contínuo do interesse por este componente está associado à busca pelo desenvolvimento da tecnologia de dispositivos eletrônicos flexíveis, transparentes e de baixo custo. TFTs integrados com nanopartículas de ZnO são apresentados, e uma extensa rotina de caracterização elétrica transiente é realizada para avaliar como estes dispositivos se comportam e degradam ao longo do tempo. Foram medidas, ao total, 80 amostras de transistores integrados em duas configurações distintas: inverted staggered e inverted coplanar. A partir das medidas analisadas foram identificados dois grupos de comportamentos elétricos dominantes, os quais foram classificados em: efeitos abruptos e efeitos de memória. A partir dos dados coletados, foram formuladas hipóteses para modelar o comportamento típico observado. Para tanto, utiliza-se dos mecanismos de atividade de traps, de interação da camada semicondutora com o meio ambiente, de polarização de dipolos e difusão de cargas móveis no dielétrico, de formação de caminhos percolados paralelos pelas nanopartículas e de difusão de vacâncias de oxigênio e íons metálicos que podem estar associados ao comportamento elétrico observado.
 
Palavras-chave: Transistor de filme fino. Nanopartículas de ZnO. Caracterização temporal. Efeitos Abruptos. Efeitos de memória. Hipóteses"