Jeol JSM 6060

O MEV JSM 6060 se destina ao estudo de amostras inorgânicas, com restrições para amostras orgânicas e poliméricas, e opera numa tensão de 0,1 a 30kV.

O microscópio está equipado com detectores de elétrons secundários de câmara (SEI). Este equipamento não tem o detector de elétrons retroespalhados (BSE) e detector de raio-X característico (EDS).

Aplicações possíveis nesse MEV incluem:

• observações convencionais de imagem em elétrons secundários (SEI)

São permitidas amostras inorgânicas, e amostras orgânicas e poliméricas com restrições.

Amostras de materiais pastosos ou oleosos, tais como asfalto, parafina, ceras  não são permitidas.