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TIAGO ROBERTO BALEN, Prof. Dr.

Departamento: Engenharia Elétrica (DELET)

 Competências

O Prof. Tiago Roberto Balen é Doutor (2010), Mestre (2006) e Engenheiro Eletricista (2004) pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS). Atualmente, é professor associado do Departamento de Engenharia Elétrica da UFRGS e orientador do Programa de Pós-Graduação em Microeletrônica, onde também exerceu a coordenação entre 2019 e 2023. Além disso, é membro do colegiado do Departamento de Engenharia Elétrica e já atuou na Comissão Coordenadora do curso de Engenharia de Computação da UFRGS. O Prof. Balen tem vasta experiência em projetos de pesquisa que envolvem tecnologias em estágio avançado de maturidade (Technology Readiness Level – TRL). Seus principais projetos incluem a avaliação de defeitos em memórias SRAM utilizando tecnologia FinFET e o desenvolvimento de conversores analógico-digitais tolerantes à radiação para aplicações aeroespaciais. Suas pesquisas focam na tolerância a falhas em dispositivos programáveis analógicos e de sinal misto, bem como nos efeitos da radiação em circuitos eletrônicos. Ao longo de sua carreira, o Prof. Balen tem contribuído significativamente para o campo da inovação, com publicações em importantes revistas e conferências, recebendo diversos prêmios de melhor artigo. Sua tese de doutorado foi reconhecida com o Prêmio Pesquisador Gaúcho em 2012 na categoria Tese Inovação Gaúcha, promovido pela FAPERGS. Seus projetos de pesquisa e extensão também visam a formação de alunos de graduação e pós-graduação, promovendo o desenvolvimento de tecnologias avançadas e soluções inovadoras no campo da engenharia elétrica e eletrônica.
_{– Este texto foi gerado por inteligência artificial (AI) generativa, baseado no conteúdo do currículo Lattes do Pesquisador –}

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Laboratório / Grupo de Pesquisa: LAPSI

Contato: tiago.balen@ufrgs.br ou Preencha o formulário de contato

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Linhas de pesquisa (propesq)

TOLERÂNCIA A FALHAS EM DISPOSITIVOS PROGRAMÁVEIS ANALÓGICOS E DE SINAL MISTO EM APLICAÇÕES SUSCETÍVEIS À RADIAÇÃO

Palavra-chaves de orientações

Amplificadores; Analog test; Analog to digital converters; Analog-to-digital converters; Circuitos analogicos; Circuitos eletrônicos; Circuitos integrados; CMOS; Common mode feedback; Conversor analogico/digital; DC test; Efeitos da radiação; Fault mitigation techniques; Fully differential amplifiers; ionizing Radiation; Low power; Microelectronics; Microeletronica; Programmable system-on-chip (PSoC); Radiacao; Radiação ionizante; Radiation effects; Radiation hardening techniques; Redundância modular tripla; Redundancy and diversity; Self-checking; Simulacao eletrica; Single event effects; Single event effects (SEE); Single event transients; Single event upset (SEU); Single events; Soft errors; Successive approximation register; Total dose; Total ionizing dose (TID) Field programmable analog arrays (FPAAs); Transient test; Triple modular redundancy (TMR)

Palavras-chaves(2) das publicações

Amplificadores operacionais; Circuitos integrados; CMOS; Efeitos da radiação; Engenharia elétrica; Microeletronica; Processamento de Sinais; Redundância modular tripla; Tolerância a falhas; Transistores

Ações adicionais

Marcar as ÁREAS abaixo no campo categorias na barra lateral direita:
Engenharia Elétrica, Ciência da Computação

Copiar lista de Subareas/especialidades abaixo para o campo TAGS da barra lateral direita:
Teste de sistemas eletrônicos, Circuitos Elétricos Magnéticos e Eletrônicos, Sistemas de Computação,Hardware

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Ajustar o ano de publicação de acordo com o TRL (Ex: TRL 7 -> ano de publicação = 2007)