SUTARIA, K. B., VELAMALA, J. B. A., WIRTH, G. I., SATO, T., CAO, YU, , MULTILEVEL RELIABILITY SIMULATION FOR IC DESIGN. In: Bias Temperature Instability for Devices and Circuits, ISBN: 9781461479093, Springer. http://link.springer.com/chapter/10.1007%2F978-1-4614-7909-3_28, 2014.
Programa de Pós-graduação em Engenharia Elétrica
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